[Анфиса]

LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий


Год: 2010
Автор: Батоврин В.К., Бессонов А.С., Мошкин В.В. и др.
Жанр: Руководство
Издательство: ДМК Пресс
ISBN: 978-5-94074-498-6
Серия: Все о LabVIEW
Язык: Русский
Формат: PDF
Качество: Отсканированные страницы + слой распознанного текста
Количество страниц: 232
Описание: Второе издание практикума по основам измерительных технологий посвящено вопросам обработки и представления результатов измерений, а также методам и средствам измерений электрических и неэлектрических величин. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике.
Ядром практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW, благодаря чему лабораторные работы могут выполняться как в учебной лаборатории в рамках традиционно организованного учебного процесса, так и на собственном компьютере во время самостоятельной работы в библиотеке или дома.
Основное отличие от первого издания заключается в расширении перечня работ за счет введения главы по измерениям неэлектрических величин, а также представлении работ в виде исполняемых приложений для операционной системы Windows XP/Vista.
Лабораторный практикум создан коллективом преподавателей кафедры информационных систем Московского государственного института радиотехники, электроники и автоматики - МИРЭА на основе опыта преподавания дисциплин, связанных с изучением измерений, и практики применения LabVIEW программного обеспечения в учебном процессе.

CD нет.